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非飽和高壓加速老化試驗箱HAST檢查芯片及其他材料長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本規范適用于量產芯片驗證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝塑料封裝)，帶偏置(bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測試。
產品型號：HT-HAST-80L廠商性質：生產廠家更新時間：2025-07-12訪 問 量：1309
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| 品牌 | 廣皓天 | 高溫 | 105℃~162.5℃ |
|---|---|---|---|
| 高壓 | 0.019~0.393 MPa | 溫度均勻性 | ￠400 mm × D550 mm |
| 分辨率 | 0.1℃ | 濕度范圍 | 65% ~ 100% RH |
| 飽和型 | 100% RH（固定濕度） | 溫度均勻度 | ±0.5℃ ~ ±2℃（視控制模式） |
| 濕度均勻度 | 非飽和模式：±2.5% RH ~ ±5% RH | 加壓時間 | 約45分鐘升至目標壓力（如0→2.0 kg/cm2） |
非飽和高壓加速老化試驗箱HAST的生產廠家，廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。
HAST試驗箱是利用高溫(通常為130°C)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件(達3 atm)來加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的密封封裝的試驗設備，用于評估產品及材料在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程。
內箱尺寸 φ475×D450mm
外箱尺寸 800×1200×940mm 以實際為準
溫度范圍 85℃~130℃
濕度范圍 65%~100%RH
溫濕度偏差 溫度：±2.0℃ 濕度: ±3% RH
溫度波動度 ≤0.5℃
溫度偏差 ≤±2.0℃
溫度均勻度 ≤2.0℃
壓力范圍 0.2～2.87bar箱內相對壓力（絕對壓力加 1 個大氣壓壓力）
偏壓端子 0~48 個可選
升溫時間 常溫 → +130℃ 約 55 min
升壓時間 常壓 → 2.87bar 約 80 min.
廣皓天HAST試驗箱具備以下特點：
穩定性更高
壓力值采實際感應偵測確保溫度、濕度及壓力值
準確度;
多重保護功能
三道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護與電熱斷水空焚保護、機臺停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構壓力保護等
智能化高
支持電腦連接，利用USB數據.
曲線導出保存
非飽和高壓加速老化試驗箱HAST
滿足測試標準
GB-T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱IEC 60068-2-66-1994 環境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽)JESD22-A100 循環溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫度，偏置電壓，以及工作壽命(IC壽命試驗)
JESD22-A110 高加速溫濕度應力試驗(HAST)
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
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